偏光顯微鏡觀察．分為反射光及透射光觀察兩部分。

1、透射光觀察

透射光觀察是指對洞穴石灰華薄片，在偏光顯微鏡透射光下進行的觀察。即巖石學(xué)巾的巖石薄片鑒定，常在單偏光與正交偏光之間反復(fù)進行。透射光觀察分為已石化及末石化兩部分進行。由于佩微攝影的照片數(shù)量很多，有的現(xiàn)象十分相似，這里僅選擇少數(shù)具特征性的照片進行描述。

（1）已石化標(biāo)本薄片

1）層狀石灰華

標(biāo)本92—12—61。采集地：貴州織金洞，劍門關(guān)。形象名：鈣華板。

照片號：2125（團版Xm）。鏡下特征：單偏光（—）；視域倍數(shù)25M10（物鏡x目鏡）。

照片視域為鈣華板底部（右側(cè)白色部分）與上覆沉積物的接觸部位，顯示出三種不同結(jié)構(gòu)。右側(cè)為白色結(jié)構(gòu)致密部分，其巾可見沿鈣華板平面延伸方向的棕色紋層。白色致密部分偏左，為棕色結(jié)構(gòu)半致密部分。其巾可見數(shù)量不多的7L洞，并見有斜交的紋理，呈現(xiàn)出該部分為許多棕色絲狀物交織而成。緊接其左側(cè)約占視域2／3的是結(jié)構(gòu)疏松層，其中交錯存在的棕色絲狀物清晰可見，并留下許多折線幾何形孔洞。整個視域給人以一種絲狀物從白色結(jié)構(gòu)致密層，棕色絲狀體向上強烈“生長”的感覺。

照片號：2126（圖版x。鏡下特征：正交偏光；視域倍數(shù)2．5M10（物鏡x目鏡）。

偏光顯微鏡為上一視域的正交偏光。右側(cè)白色致密結(jié)構(gòu)層中，呈現(xiàn)出垂直紋層的，具不同消光位的桿狀方解石晶體。反映沉積物石化、重結(jié)晶作用較為強烈，已形成垂直并突破紋層的柱狀方解石晶體。半致密結(jié)構(gòu)層中，孔洞已被只“白”干涉色的方解石晶粒所充填。反映出沉積物已經(jīng)協(xié)了一定的石化階段，但重結(jié)品作用內(nèi)不明顯，仍留下許多棕色絲狀物的殘余結(jié)

構(gòu)。疏松結(jié)構(gòu)層中，交錯存在的絲狀物及其形成的折線幾何形孔洞仍然清晰可見。但絲狀

物的絲體外緣，“粘結(jié)”了許多具“局級白”干涉色的力解石細(xì)粒，部分絲狀物已被細(xì)粒方解石所覆蓋，形成了泥品方解石薄膜G反映出棕色絲狀物具食，“粘結(jié)”或“捕獲”微細(xì)粒狀方解石的功能，當(dāng)細(xì)粒方解石顆粒聚集后，可形成泥晶方解石的薄膜“泥晶套”。

偏光顯微鏡對層狀石灰華的觀察表明：⑦沉積物可分為疏松、半致密及致密三種結(jié)構(gòu)層：⑨疏松結(jié)構(gòu)層，由棕色絲狀物組成，其間構(gòu)成折線狀幾何形孔洞。致密結(jié)構(gòu)層呈灰白色，可見有平行狀紋層。半致密結(jié)構(gòu)層介于兩者之間；③正交偏光下可見棕色絲狀物上“粘結(jié)”或“捕獲”許多方解石細(xì)小品粒，密集處己形成方解石薄膜包裹的絲狀體；④正交偏光下，可見具不同消光位的方解石品粒，穿越棕色紋理的現(xiàn)象；⑤具致密結(jié)構(gòu)層的沉積物，其石化、重結(jié)晶現(xiàn)象明19高于疏松、偏光顯微鏡半致密結(jié)構(gòu)的沉積物。http://www.cnnoptics.com/