徠卡顯微鏡-光學測試技術綜述

一、徠卡顯微鏡研究領域

凡是利用光學原理進行精密測量的技術．都稱為光學測試技術。計量（Metorl08y）、測量

（Me姻Mrement）、檢驗（1nspe口ion）與測試（MeasMrln8andTesti98）這四個名詞對初學者來說，往往相互混淆，持別是光學計量、光學測量、光學檢驗與光學測試這四個主題詞更容易認為是一件事。實際上其研究的目標是不盡相同的，僅在研究領域與研究方法上有一定交叉和重疊而已。一般說計量是泛指對物理量的標定、傳遞與控制；測量是泛指各種物理量與技術參數(shù)的獲取方法；檢驗是泛指產(chǎn)品質(zhì)量的評估技術與方法；而測試則是測量、試驗與檢驗的總稱，側重于方法與技術的研究，而不是產(chǎn)品質(zhì)量的標定方法研究，因此，光學測試技術的主要研究領域如表o—1所示。

表o—l光學測試技術的研究領域

領域名稱主要內(nèi)容

光學成像技術光放大技術，肥成像技術，聊（位置傳感器）技術，自準宜技術．光掃描技術，圖像處理技術

光伯振技術雙折射效應，橢偏技術．光彈效應，光熱效應，陽bk電光效應，xe”電光效應，F(xiàn)aMd時磁光效應

光干涉技術共路干涉技術，切剪干涉技術，外差及零差干涉技術，多光束干涉技術

光度與色廢技術發(fā)光與分光測量，光度與照度測量，顏色許價，色度測量，生理光學

光譜技術棱鏡光譜技術，光柵光譜技術．喇曼光譜技術，原子吸收光譜技術

光電技術光電與光電倍增技術，攝像技術，紅外技術．激光技術

光散射技術拉曼散射，米氏散射，布里淵散射，偏振散射

其他光物理技術勘1比t效應，薄膜技術，多普勒技術，頻譜技術

自70年代開始由于激光技術、光波導技術、數(shù)字技術、計算機技術以及博里葉光學的出現(xiàn)，使光學發(fā)展成近代光學。以激光為代表的近代光學促使光學測試技術出現(xiàn)更多新方法和新技術，從而開始形成近代光學測試技術。近代光學測試技術研究的領域如表o—2所示。

表o—2近代徠卡顯微鏡光學測試研究領域

領域名稱主要內(nèi)容

激光干涉技術激光光束干涉，激光外差干涉．條紋掃描干涉，知十四切干涉

光全息技術全息干涉，全息等高線技術，多顧全怠技術，計算機全息，實時全息技術

光散斑技術客觀數(shù)斑法，散斑干涉法，散斑剪切法，e光散斑法，電子散斑法

莫爾技術莫爾條墳法，莫爾等高線法，拓撲技術

光衍射技術間隙法t5射衍射法，互補法，全場衍射出量

光掃描技術激光掃蝴，外差掃描．掃措定位．掃描穎諸法．無定向掃撈，三維掃格

光纖與波導技術功能型光纖傳感技術，非功能型光纖傳感技術．分布式光纖技術，光纖靈巧結構

激光光譜技術激光喇曼光譜，激光熒光光諸．激光原于吸收光譜p慢區(qū)光譜，光聲光譜

配D成原技術w法，刪法，陰法，數(shù)字圖像法，X信息處理法

激光多普勒技術多普勒謝速，差動多普勒技術．激光多普勒技術

光學診斷與元損檢測光伏效應，切剪術導法，光熱編轉(zhuǎn)法

光學納米技術掃報激光顯微術，光學隧道顯微術，激光力顯微術，原子力顯微術

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