更新時間：2024-11-08
簡要描述：
舜宇 IE200M 倒置金相顯微鏡，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
舜宇 IE200M 倒置金相顯微鏡，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
舜宇 IE200M 倒置金相顯微鏡優(yōu)勢
高精度粗微動調焦機構
采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節(jié)，微調精度高，手動調節(jié)簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒適的圖像。粗調行程為38mm，微調精度0.002。
大尺寸機械移動平臺
采用180×155mm的大尺寸平臺，右手位設置，符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平臺移動的操作切換，為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。
落射柯拉照明系統(tǒng)
采用180×155mm的大尺寸平臺，右手位設置，符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平臺移動的操作切換，為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。
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